濟(jì)南pct老化試驗箱生產(chǎn)廠家
更新時間:2023-10-20
濟(jì)南pct老化試驗箱生產(chǎn)廠家用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),出封裝中的弱點,如分層和金屬化層的腐蝕。
【濟(jì)南pct老化試驗箱生產(chǎn)廠家針對JESD22-A102的試驗說明:】 用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),出封裝中的弱點,如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計的更新。 應(yīng)該注意,在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時,可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。 外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會造成離子遷移不正常生長,而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。 濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處、、等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,造成腐蝕以及漏電流、、等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。 標(biāo)注價格并不是成Jiāo價格,歡迎詢價。
1.高壓加速老化試驗機(jī)Du家采用全自動補(bǔ)充水位之功能,試驗*中斷、 2.試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。 3.干燥設(shè)計,試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,確保穩(wěn)定性。 4.精準(zhǔn)的壓力/溫度對照顯示,*符合溫濕度壓力對照表要求。 【濟(jì)南pct老化試驗箱生產(chǎn)廠家:定方案,請根據(jù)您需求選擇輸入?yún)?shù)】 希望內(nèi)箱尺寸:H W D cm 放置場地尺寸:H W D cm 溫度范圍: ℃ -℃ 常用溫度: ℃ Zui低溫度: ℃ 濕度范圍: % %RH 常用濕度: %RH Zui低濕度: %RH 降溫速度: ℃/min 升溫速度: ℃/min 所測試產(chǎn)品是否需要通電測試: 能電測試的發(fā)熱源多大: 其它類特定要求: 測試負(fù)載(物品性質(zhì)): 負(fù)載發(fā)熱功率多大: 放置場地有無空調(diào): 房間空調(diào)多大?
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