熒光膜厚計(jì)

更新時(shí)間：2024-06-24

熒光膜厚計(jì)采用中文視窗操作測量系統(tǒng)解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

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熒光膜厚計(jì)特點(diǎn)：

中文視窗操作測量系統(tǒng)
解析度0．001um，小測量面積0．1mmΦ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個(gè)別厚度
藉由光譜分析可判定被測物之元素
適用對(duì)象：1C導(dǎo)線架，封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零
件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。

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