太陽(yáng)能抗老化試驗(yàn)箱  雙85試驗(yàn)箱  

公司生產(chǎn)的產(chǎn)品廣泛用于：電子、電器、連接器、五金、LED、LCD、模組、模塊、手機(jī)、塑膠、顯示器、二三極管、機(jī)箱、電鍍、插頭、電線、IC、磁鐵、線路板、馬達(dá)、電機(jī)、汽車配件、家電、通信、化工、科研、航天、模組、家具、主板、集成電路、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。

 太陽(yáng)能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽(yáng)光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上，規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test（溫度循環(huán)測(cè)試）、Humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試）、Damp Heat（濕熱測(cè)試），以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

太陽(yáng)能抗老化試驗(yàn)箱
性能參數(shù)：
▲.測(cè)試環(huán)境條件下：環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下
▲.測(cè)試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備/GB/T 5170.5-1996 濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅濕熱型）

▲.溫度波動(dòng)：±0.5℃

▲.濕度范圍：20%～98%R.H
▲.濕度波動(dòng)：±2.5%R.H.
▲.濕度分布精度：±4.0%.

▲.溫度分布精度：±2.0℃
▲.溫度范圍：負(fù)載-40℃→+85℃ /（空載－70℃到150℃）

太陽(yáng)能抗老化試驗(yàn)箱
 光伏組件試驗(yàn)箱-雙85試驗(yàn)箱滿足相關(guān)規(guī)范：
▲薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911
▲聚光太陽(yáng)能:IEC62108 、IEEE1513  humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試）

▲（IEC61215 , IEC61646 , UL1703，IEC62108 , IEEE1513 ，IEC61730 ）

相關(guān)規(guī)范資料介紹：
▲硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703 、GB9535技術(shù)規(guī)格：
▲產(chǎn)品型號(hào)：TH-容量
▲內(nèi)箱尺寸：按客戶要求外型尺寸：按客戶要求制造

       東莞艾思荔檢測(cè)儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)、銷售太陽(yáng)能光伏組件試驗(yàn)箱：紫外老化試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱、雙85試驗(yàn)箱、雙85實(shí)驗(yàn)箱、濕凍試驗(yàn)箱、濕冷凍試驗(yàn)箱、高溫高濕試驗(yàn)箱、PCT試驗(yàn)箱、HAST試驗(yàn)箱等。