三綜合試驗設(shè)備的用途:
三綜合試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
三綜合試驗設(shè)備產(chǎn)品型號規(guī)格:
型號規(guī)格 工作尺寸(mm)
THV-408 600×850×800
THV-408 800×1000×1000
THV-1000 1000×1000×1000
三綜合試驗設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征:
1、內(nèi)壁:進(jìn)口SUS304不銹鋼
2、外殼:冷軋板靜電噴涂
3、保溫材料:硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡或超細(xì)玻璃棉,具有保溫性有好等特點
4、密封:進(jìn)口硅膠密封條
5、控溫濕方式:BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕
6、觸摸屏溫濕度控制儀,進(jìn)口韓國觸摸屏,PID整定調(diào)節(jié),0.1級精度,升溫、降溫、加濕、去濕獨立,液晶LCD顯示,具有通訊接口,大容量程序,操作簡單,用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗,有程序運行和恒定運行功能
7、加熱:不銹鋼翅片空氣加熱
8、加濕:淺槽蒸汽加濕
9、冷機:*全封閉壓縮機,機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)
10、設(shè)備供水凈化器
11、上電自動進(jìn)水
12、對流系統(tǒng):空調(diào)電機定制鋁風(fēng)葉
13、設(shè)備運行定時器
14、箱門*設(shè)大面積觀察窗,并配有觀察燈
15、全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng),主控制儀采用韓國進(jìn)口觸摸屏溫濕度控制儀
16、帶獨立的高度升降裝置,便于設(shè)備與振動臺配套。
三綜合試驗設(shè)備的主要技術(shù)指標(biāo):
1 、溫度范圍:-70℃、-40℃、-20℃~+150℃
2 、濕度范圍:30%~98%RH
3、溫度波動度:±0.5℃
4 、溫度偏差:≤2℃
5 、濕度偏差:+2-3%RH
6、升降溫速率:0.7~1℃/min
三綜合試驗設(shè)備的安全保護(hù)裝置:
1 、電源超載、控制回路過載、短路保護(hù)
2 、接地保護(hù)、電機過載保護(hù)
3 、超溫保護(hù)
4 、壓縮過壓、過載保護(hù)
5 、為保護(hù)設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。
三綜合試驗設(shè)備的使用現(xiàn)場條件:
1.溫度:15℃~35℃
2.相對濕度:不大于85%RH
3.周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響
4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無強烈氣流,當(dāng)周圍空氣需要強制流時,氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平。
8.試驗箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操作。
9.安裝場地通風(fēng)良好
10.良好接地
三綜合試驗設(shè)備的服務(wù):
1.提供設(shè)備的電氣原理圖、易耗件明細(xì)表、操作維護(hù)手冊等技術(shù)資料,并提供主要外購配套件的技術(shù)資料。
2.培訓(xùn)設(shè)備操作、維護(hù)人員,使其*掌握設(shè)備的操作技能和一般性的維修、保養(yǎng)技能。
3.自設(shè)備通過驗收之日起的1年內(nèi),向買方提供免費的售后服務(wù)
4. (相關(guān)軟件及技術(shù)升級長期免費支持)包修期滿后提供有償服務(wù)。
三綜合試驗設(shè)備的安全保護(hù)裝置:
1.電源超載、短路保護(hù)
2.接地保護(hù)
3.超溫保護(hù)
4.壓縮過壓、過載保護(hù)
5.為保護(hù)設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。
三綜合試驗設(shè)備設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造:
GB 10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
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