熒光X線膜厚計(jì)
采用中文視窗操作測(cè)量系統(tǒng)解析度0.001μm小測(cè)量面積0.1mmφ熒光X線膜厚計(jì)可測(cè)量合金層之厚度和組成比例熒光X線膜厚計(jì)可測(cè)量?jī)蓪右陨襄儗又畟€(gè)別厚度籍由光譜分析可判定被測(cè)物之元素適用對(duì)象:IC導(dǎo)線架、封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)
中級(jí)會(huì)員
第15年