熒光膜厚計特點: 中文視窗操作測量系統(tǒng) 解析度0.001um, 小測量面積0.1mmΦ 可測量合金層之厚度和組成比例 可測量兩層以上鍍層之個別厚度 藉由光譜分析可判定被測物之元素 適用對象:1C導(dǎo)線架,封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零 件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。
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第15年