鍍膜測(cè)試儀特點(diǎn): 中文視窗操作測(cè)量系統(tǒng) 解析度0.001um, 小測(cè)量面積0.1mmΦ 可測(cè)量合金層之厚度和組成比例 可測(cè)量?jī)蓪右陨襄儗又畟€(gè)別厚度 藉由光譜分析可判定被測(cè)物之元素 適用對(duì)象:1C導(dǎo)線架,封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零 件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。
中級(jí)會(huì)員
第15年