熒光X線光譜儀特點： ◆ 快速：每次測試時間僅需60－200秒，快速方便； ◆ 無損：檢測前無須對樣品處理； ◆ 準確：檢出限可達1ppm（百萬分之一）； ◆ 直觀：軟件操作界面非常簡單、直觀、易懂。
熒光X線光譜儀特性： ◆ 測量RoHS、電鍍鍍層、全元素分析、一機多用； ◆ 半導體硅片電制冷系統(tǒng)，擯棄液氮制冷； ◆ 特別開發(fā)的RoHS測量軟件，操作界面十分友好； ◆ 可選的準直器系列，分別針對不同大小的樣品； ◆ 超大樣品腔，幾乎對樣品尺寸無限制； ◆ 精準的移動平臺，更精確方便地調(diào)節(jié)樣品位置； ◆ 內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時監(jiān)測樣品； ◆ *的光路增強系統(tǒng)，方便用戶更好地觀察樣品； 熒光X線光譜儀檢測分析譜圖式樣： （點擊放大查看）
熒光X線光譜儀綜合性能指標:
一．基本性能: 1.元素分析范圍從鉀（K）到鈾（U）； 2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%； 3.測量時間：60-200秒； 4.元素分析檢出限達1PPm； 5.多次測量重復性可達0.1％； 6.長期工作穩(wěn)定性為0.1％； 7.能量分辨率為165EV； 8.溫度適應(yīng)范圍為15℃至26℃； 9.電源：交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。） 10.相互獨立的基體效應(yīng)校正模型； 11.多變量非線性回收程序； 12.任意多個可選擇的分析和識別模型； 13.一次可同時分析24個元素。 二．鍍層厚度測試: 1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度； 2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um； 3.極小的測定面積,可達0.1mm＊0.1mm； 4.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產(chǎn)生影響； 5.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜； 6.電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等； 7.可測量二元合金、三元合金等的鍍膜厚及成份； 8.可分析10層以上的鍍層； 9.簡捷、明了的測厚分析軟件界面； 10.可分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。 三．歐盟ROHS指令測試: 1.無損、精確、快速測量各種塑料、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件里面的有毒有害元素； 2.對鎘（Cd）、鉛（Pb）、鉻（Cr）、溴（Br）、汞（Hg）的檢出限達1PPm； 3.簡捷、明了、便利的軟件操作界面。 四．熒光X線光譜儀元素含量分析: 1.無損、精確、快速測量各種樣品中各元素的含量； 2.一次可同時分析樣品中的24個元素； 3.應(yīng)用在化學工業(yè)、鋼鐵、水泥、陶瓷、電子、環(huán)保、食品、造紙、石油、煤炭、有色金屬等領(lǐng)域的研發(fā)和品質(zhì)管理（生產(chǎn)控制）； 4.樣品的狀態(tài)可以是固體、液體、粉體。
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