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半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2023-10-20

半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱用途:測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱性能:

1測(cè)試環(huán)境條件4、2、 測(cè)試方法 環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、

2溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點(diǎn))

3、溫度波動(dòng)度 ±05℃、

4溫度偏差 ±2、0℃

5、濕度范圍 75% ~ 100 %R、H 、 (控制點(diǎn))

6、濕度波動(dòng)度 ±2、5 %R、H

7、濕度均勻度 ±50%、

8壓力范圍 0、5~2㎏/㎝2 (005~0、196 MPa) (控制點(diǎn))

9、升溫時(shí)間 常溫 → + 132℃ 35 min 、

10升壓時(shí)間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min

半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱

半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格

<strong><strong><strong><strong>半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱</strong></strong></strong></strong>

pct老化試驗(yàn)箱的特點(diǎn):  

1、技術(shù)精密,具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)加水200h。  

2、試驗(yàn)過(guò)程中圓幅內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸汽過(guò)熱沖擊損失測(cè)品。  

3、圓型門設(shè)計(jì),能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制,鎖牢固才能啟動(dòng)試驗(yàn)機(jī),箱內(nèi)壓力超壓時(shí)具有自動(dòng)泄壓或手動(dòng)泄壓。  

4、計(jì)時(shí)安裝,LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器,當(dāng)鍋內(nèi)溫度達(dá)到后計(jì)時(shí)器確保試驗(yàn)*,計(jì)時(shí)從表格1驅(qū)動(dòng)。

5、精準(zhǔn)的壓力,溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與溫度,精準(zhǔn)壓力+0、2~20kg/cm2、  

6試驗(yàn)開(kāi)始前使用真空泵抽真空,將機(jī)器原來(lái)的空氣抽出并過(guò)濾與至新鮮空氣一切完整開(kāi)始試機(jī)。  

7箱內(nèi)經(jīng)過(guò)拋光處理經(jīng)久耐用、美觀、不沾污。  

8、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水自動(dòng)排出未飽和蒸汽已達(dá)到飽和。  

9異常原因及故障指示燈顯示,設(shè)置自動(dòng)保護(hù)LIMIT安全。

<strong><strong><strong><strong>半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱</strong></strong></strong></strong>

pct老化試驗(yàn)箱試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止:

易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱用途:

測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)箱

 

 

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